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- Yi CuiStanford UniversityAdresse e-mail validée de stanford.edu
- Nian LiuGeorgia Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de chbe.gatech.edu
- Jack A. LewisGeorgia Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de gatech.edu
- Seok Woo LeeSchool of Electrical and Electronic Engineering, Nanyang Technological UniversityAdresse e-mail validée de ntu.edu.sg
- Hui WuTsinghua UniversityAdresse e-mail validée de mail.tsinghua.edu.cn
- Yuan YangColumbia University, MIT, StanfordAdresse e-mail validée de columbia.edu
- Matthew BoebingerCenter for Nanophase Materials Science at Oak Ridge National LaboratoryAdresse e-mail validée de ornl.gov
- William D. NixStanford UniversityAdresse e-mail validée de stanford.edu
- Yan YaoHugh Roy and Lillie Cranz Cullen Distinguished Professor, University of HoustonAdresse e-mail validée de uh.edu
- judy j. chaProfessor, Materials Science and Engineering, Cornell UniversityAdresse e-mail validée de cornell.edu
- Francisco Javier Quintero CortesAssistant Professor, Civil Engineering Department, Pontificia Universidad JaverianaAdresse e-mail validée de javeriana.edu.co
- Pralav P. ShettyVP and GM, Electron Microscopy and Failure Analysis, Covalent MetrologyAdresse e-mail validée de covalentmetrology.com
- Hyun-Wook LeeEnergy and Chemical Engineering, UNISTAdresse e-mail validée de unist.ac.kr
- Neha KondekarAppleAdresse e-mail validée de gatech.edu
- Ariel JacksonAdresse e-mail validée de stanford.edu
- Chongmin Wang (王崇民)Pacific northwest National laboratoryAdresse e-mail validée de pnnl.gov
- Ill RyuSeoul National UniversityAdresse e-mail validée de snu.ac.kr
- Stephanie Elizabeth SandovalGeorgia Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de gatech.edu
- bruce Brunschwigchemist, California institution of technologyAdresse e-mail validée de caltech.edu
- Akila C. ThenuwaraSenior Battery Scientist, Corning IncorporatedAdresse e-mail validée de me.gatech.edu
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Matthew T. McDowell
Associate Professor, Georgia Institute of Technology
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