Obtenir mon propre profil
Citée par
Toutes | Depuis 2019 | |
---|---|---|
Citations | 6164 | 3702 |
indice h | 36 | 28 |
indice i10 | 134 | 90 |
Accès public
Tout afficher5 articles
7 articles
disponibles
non disponibles
Sur la base des exigences liées au financement
Coauteurs
Atul KulkarniSCNN, Symbiosis International (Deemed University), PuneAdresse e-mail validée de scnn.edu.in
Hyeong-U KimKIMM, USTAdresse e-mail validée de kimm.re.kr
Hyunho SeokSungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
Jang Ah KimDepartment of Mechanical Engineering | Hamlyn Centre, Imperial College LondonAdresse e-mail validée de imperial.ac.uk
Chisung AhnKorea Institute of Industrial TechnologyAdresse e-mail validée de kitech.re.kr
Kim EungchulSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com
Hongyi QinSungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
Hojoong KimSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com
Nam, Jae DoSungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
Sung Ha ParkProf. of Physics, Sungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
Sreekantha Reddy DugasaniDepartment of Physics, Sungkyunkwan University, Suwon, KoreaAdresse e-mail validée de skku.edu
Yinhua JinSungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
DONGGEON KWAKSamsung electronics. Memory CMP technologyAdresse e-mail validée de skku.edu
Cheolmin ShinPh. D Course, Department of Mechanical Engineering, Sungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
Min-Ho LeeChung-Ang UniversityAdresse e-mail validée de cau.ac.kr
Rashid AminSKKU, COMSATS, KFUPM, UHBAdresse e-mail validée de skku.edu
Youngkwan LeeSungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
Soon-Bark KwonNAOM Inc.Adresse e-mail validée de naom.ai
Jihun MunKorea Research Institute of Standards and ScienceAdresse e-mail validée de kriss.re.kr
Bramaramba GnapareddySungkyunkwan University, Suwon, KoreaAdresse e-mail validée de skku.edu