Профили

Daniel M. Fleetwood

Professor of Electrical Engineering, Vanderbilt University

Подтвержден адрес электронной почты в домене vanderbilt.edu

Цитируется: 29989

radiation effects defects microelectronics low frequency noise

Hyungwoo Lee

Ajou University

Подтвержден адрес электронной почты в домене ajou.ac.kr

Цитируется: 3474

Complex Oxides Nano-electronics Low-frequency Noise

Choong-Ki Kim

KAIST, SK hynix, Georgia Tech.

Подтвержден адрес электронной почты в домене gatech.edu

Цитируется: 2078

Atomic Layer Deposition Low Frequency Noise 2D Materials DRAM Peri Tr eNVM-CIM

Jackie D. Renteria

Postdoctoral scholar in Electrical Engineering, UC-Riverside

Подтвержден адрес электронной почты в домене ucr.edu

Цитируется: 2042

Nano-device fabrication van-der-Waals materials thermal management low-frequency noise

Purushothaman Srinivasan

Senior Member of Tech Staff, GLOBALFOUNDRIES

Подтвержден адрес электронной почты в домене GlobalFoundries.com

Цитируется: 1177

MOSFET low-frequency noise BTI RF reliability

Wonjun Shin

Seoul National University

Цитируется: 1170

Semiconductor Devices Low-Frequency Noise

Christoforos THEODOROU

IMEP-LAHC, Minatec, Grenoble INP

Подтвержден адрес электронной почты в домене minatec.inpg.fr

Цитируется: 1107

Device characterization Low-frequency noise Random Telegraph Noise

Ligia Torres Silva

Associate professor of Civil Engineering, University of Minho

Подтвержден адрес электронной почты в домене civil.uminho.pt

Цитируется: 1068

Urban pollution noise air pollution monitoring low-frequency noise

Yuan Liu

Guangdong University of Technology

Подтвержден адрес электронной почты в домене ieee.org

Цитируется: 783

Thin Film Transistor Reliability Low Frequency Noise

Chhandak Mukherjee

Chargé de Rechereche CNRS, IMS Laboratory, University of Bordeaux, France

Подтвержден адрес электронной почты в домене ims-bordeaux.fr

Цитируется: 756

Characterization Compact Model Reliability Low-frequency Noise

1 - 10