Общедоступные статьи - Thomas JacquetПодробнее...
1 статья доступна в некоторых источниках
Hot-carrier degradation in SiGe HBTs: A physical and versatile aging compact model
C Mukherjee, T Jacquet, GG Fischer, T Zimmer, C Maneux
IEEE Transactions on Electron Devices 64 (12), 4861-4867, 2017
Финансирование: European Commission
Информация о публикациях и финансировании собрана автоматически.