个人学术档案

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Youngbin Lee

Korea Electronics Technology Institute

在 keti.re.kr 的电子邮件经过验证

被引用次数：17342

Semiconductor reliability Device characterization Nanomaterials

Behrang H. Hamadani

National Institute of Standards and Technology

在 nist.gov 的电子邮件经过验证

被引用次数：3764

photovoltaics wide bandgap materials device characterization physics defects in semiconductors

Abby R. Whittington

Virginia Tech

在 vt.edu 的电子邮件经过验证

被引用次数：3276

Medical Devices Device Characterization Biobased Materials Degradable Polymers

Chih-Hung Chen

Professor, Dept. Electrical & Computer Engineering, McMaster University

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被引用次数：2857

Noise Modeling MOSFETs Low Noise Circuits Device Characterization

Dominique Planson

Professeur des Universités, INSA de Lyon

在 insa-lyon.fr 的电子邮件经过验证

被引用次数：2844

Wide Bandgap Semiconductor Device Characterization Device Design Silicon Carbide Gallium Nitride

Xiaoye Qin

Intel

被引用次数：2733

GaN HEMTs XPS Device Characterization

Erik Johnson

LPICM CNRS Ecole Polytechnique

在 polytechnique.edu 的电子邮件经过验证

被引用次数：2167

Photovoltaics plasma processing optoelectronics device characterization RF engineering

Kwan H. Lee

UQ Postdoctoral Research Fellow, University of Queensland

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被引用次数：2067

Organic Electronics Organic Solar Cells Device Fabrication Device Characterization Ultrafast Spectroscopy

Michael E Ramon

The University of Texas at Austin

在 utexas.edu 的电子邮件经过验证

被引用次数：1387

Nanoelectronics Nanofabrication Device Characterization

Dr. Yun Seop Yu

Hankyong National University

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被引用次数：1323

Device modeling for circuit simulation Device characterization

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